Die an der TU Wien entwickelte Messtechnik zeigt, dass Rasterkraftmikroskope ohne aufwändige Datenverarbeitungstechnologie auskommen. Eine im Sensorelement eingebaute maßgeschneiderte elektronische Schaltung liefert auf direkte, unkomplizierte Weise Information über den Zustand der Spitze. Experimente verliefen bereits sehr erfolgreich. „Es gibt bereits erste Gespräche mit … [Weiterlesen...] Infos zum Plugin Rasterkraftmikroskop ohne aufwändige Datenverarbeitungstechnologie