Die an der TU Wien entwickelte Messtechnik zeigt, dass Rasterkraftmikroskope ohne aufwändige Datenverarbeitungstechnologie auskommen. Eine im Sensorelement eingebaute maßgeschneiderte elektronische Schaltung liefert auf direkte, unkomplizierte Weise Information über den Zustand der Spitze. Experimente verliefen bereits sehr erfolgreich. „Es gibt bereits erste Gespräche mit … [Read more...] about Rasterkraftmikroskop ohne aufwändige Datenverarbeitungstechnologie